InSpec Overfladefejl Detektion
InSpec Overfladefejl Detektion

InSpec Overfladefejl Detektion

Om dette produkt

Overalt hvor det er nødvendigt at inspicere overflader for defekter eller mangler, kan InSpec-systemet anvendes.
Lignende produkter
1/11
Laserbeskyttelse
Laserbeskyttelse
Lasersikkerhed bør altid have højeste prioritet ved drift af en laser.
DE-82205 Gilching
Nanopartikelmåling USP 729
Nanopartikelmåling USP 729
Partikelmåling optisk i området 1nm - 400µm https://www.soliton-gmbh.de/de/produkte/analytik-und-prozesstechnik/partikelmessung-optisch Med de bærbar...
DE-82205 Gilching
Rengørings Nd:YAG Laser
Rengørings Nd:YAG Laser
Lasertype: Faststoflaser Bølgelængde: 1064nm Gentagelsesrate: 30Hz Gennemsnitlig effekt: 10W...
DE-82205 Gilching
ERT/ECT-systemer til Proces Tomografi
ERT/ECT-systemer til Proces Tomografi
Nye tomografiske metoder kan anvendes til online måling og visualisering af forskellige processer i proceskolonner, kedler eller rørledninger.
DE-82205 Gilching
Højvakuum glasceller til kolde atomer og BEC'er
Højvakuum glasceller til kolde atomer og BEC'er
Højvakuum glasceller fra ColdQuanta med både indvendig og udvendig AR-belægning, ideelle til eksperimenter med laserkøling og spektroskopi af ultrakol...
DE-82205 Gilching
CW Fiberlaser til det synlige område
CW Fiberlaser til det synlige område
Lasertype: Faserlaser Bølgelængde: 488 - 647nm Gentagelsesrate: CW Gennemsnitlig effekt: 200 mW - 5 Watt Vores leveringsprogram omfatter faserlasere ...
DE-82205 Gilching
THz-optik
THz-optik
Optikken fra Daheng Optics er specielt designet til terahertz-applikationer og tilbyder høje transmissions- eller refleksionsværdier i dette specifikk...
DE-82205 Gilching
Raman Spektrometer og Mikroskoper
Raman Spektrometer og Mikroskoper
I samarbejde med Renishaw tilbyder vi fleksible Raman-spektroskoper til brug i forskning og udvikling samt procesovervågning.
DE-82205 Gilching
MSV-300 Scannet Maske Billeddannelse
MSV-300 Scannet Maske Billeddannelse
„Laser Embedded Conductor Technology” er en ny metode til omkostningseffektiv fremstilling af mindre IC-pakker. Først skabes strukturbreder på 1-10µm...
DE-82205 Gilching
Laser Stråleprofil Analyse - Stråleprofiler
Laser Stråleprofil Analyse - Stråleprofiler
Tilgængelige følsomme flader: 6.3 x 4.8 mm² 8.8 x 6.6 mm² 14.4 x 10.8 mm² 20 x 15 mm² Beamprofiler fra DataRay findes til næsten enhver strålepro...
DE-82205 Gilching
CARS Raman Mikroskop
CARS Raman Mikroskop
CARS Raman-spektrometer CARS Raman-spektrometeret er designet til højopløsnings spektroskopi applikationer. Det tilbyder: - Høj følsomhed og præcisi...
DE-82205 Gilching