tinyTracker 172 nm: Båndradiometer til præcise målinger for 172 nm xenon - UV-måler

Xenon excimerlamper muliggør nye, ressourcebesparende og mere effektive produktionsmuligheder. De anvendes inden for overfladebehandling til matting, rengøring, overfladeaktivering eller til at spare fotoinitiatorer. For dette formål anvendes det smalle spektrum omkring 172 nm normalt til at bestråle under inertgasforhold. Den høje fotonenergi er tilstrækkelig til at splitte næsten alle organiske forbindelser. Målingen ved 172 nm (VUV) er en vigtig komponent til proceskontrol og optimering. Med tinyTracker 172 tilbyder vi et kalibreret båndradiometer, der er velegnet til brug i en inert atmosfære. tinyTracker 172 er absolut kalibreret og måler bestrålingsintensiteten og bestrålingsdosis af xenon excimerlamper direkte ved 172 nm. På grund af sit særligt flade design kan tinyTracker172 guides gennem bestrålingskanalerne i UV-båndtørrere og andet industrielt udstyr. Måleområde: 0-200 mW/cm² Opløsning: 12 bit Optagelsestid: op til 3 timer Samplingfrekvens: 1 - 100 Hz, justerbar Fotodetektor: GAP