ntegra dualscan

... elektronik muliggør drift i højfrekvens (op til 5MHz) tilstande. Denne funktion viser sig at være afgørende for arbejdet med højfrekvens AFM-tilstande og brugen af højfrekvens cantilevers.* Der er flere scanningsmetoder implementeret i NTEGRA: scanning ved prøven, scanning ved proben og dual-scanning. På grund af dette er systemet ideelt til at undersøge små prøver med ultrahøj opløsning (atom-molekylært niveau) samt til store prøver og scanningsområder op til 100x100x10 µm. XY prøvepositionering: 5x5 mm Positioneringsopløsning: læsbar opløsning - 5 um følsomhed - 2 um...