Ntegra - Moduleret AFM

NTEGRA er en multifunktionel enhed til udførelse af de mest typiske opgaver inden for Scanning Probe Mikroskopi. Enheden er i stand til at udføre mere end 40 målemetoder, hvilket muliggør analyse af fysiske og kemiske egenskaber ved overfladen med høj præcision og opløsning. Det er muligt at udføre eksperimenter i luft, såvel som i væsker og i kontrollerede miljøer. Den nye generation af elektronik muliggør drift i højfrekvens (op til 5MHz) tilstande. Denne funktion viser sig at være afgørende for arbejdet med højfrekvens AFM-tilstande og brugen af højfrekvens cantilevers.* Der er flere scanningsmetoder implementeret i NTEGRA: scanning ved prøven, scanning ved proben og dual-scanning. På grund af dette er systemet ideelt til at undersøge små prøver med ultrahøj opløsning (atom-molekylært niveau) samt til store prøver og scanningsområder op til 100x100x10 µm. XY prøvepositionering: 5x5 mm Positioneringsopløsning: læsbar opløsning - 5 um følsomhed - 2 um