afm systemer

...afm Hatprofilvæg bestående af galvaniserede og afskårne profiler, 102x60x15 mm. Materialetykkelse 0,5 mm. Hatprofilerne bliver nittet til galvaniserede stålvinkler, 25x28 mm. Afstanden mellem de lodrette profiler er ca. 40 mm. Afstanden fra FFB til UK stålprofil er fastsat til ca. 50 mm. De galvaniserede, lodrette stålrør, 30x30 mm, bliver fastgjort til bunden og loftet af bygningskroppen. Stålprofil Europæisk Design nr. 006656252-0001.

... ladede partikler). Udviklingen af permanente magnetfeltkilder til brug med SPM, STM, AFM-systemer, samt til MRAM og MRI/NMR-applikationer, til kundens specifikke krav er et andet lovende område for fordelagtigt samarbejde.

... har skabt højtydende systemer som NTEGRA, NEXT II og NTEGRA Spectra II, der er blevet bevist i det videnskabelige samfund gennem mange vigtige publikationer. Solver Nano er udstyret med en professionel 100 mikron CL (closed loop XYZ) piezotube scanner med lav støj kapacitanssensorer. Kapacitanssensorer har i sammenligning med strækfølere og optiske sensorer lavere støj og højere hastighed i...

...Med AFSEM-rasterkraftmikroskopet (AFM) kan to af de mest kraftfulde overfladeanalysemetoder, AFM og REM, hurtigt og nemt kombineres. Med kun et korrelativt system får man en bred vifte af forskellige oplysninger om den prøve, der skal måles. AFSEM-rasterkraftmikroskopet er kompatibelt med de fleste REM- eller REM/FIB-systemer og implementeres direkte i et eksisterende REM. Alle REM-målemetoder forbliver intakte. AFSEM bruger andre almindelige analysemethoder som FIB, FEBID og EDX.

... nm laser) Spektrometer konfiguration::2-kanals billedspektrometer direkte koblet til et mikroskop eller ekstern billedspektrograf Brennvidde::200 mm, 350 mm, 520 mm eller 750 mm Antal gitter::2 gitter, 4 valgfrit eller 4 monteret på motoriseret turret, flere gitter med manuel ændring Detektionssystem::CCD sensor 2048х122 pixels, med Peltier køling eller CCD sensor 2048х122 med to-trins køling Muligheder::Opvarmnings- og køletrin, fiberoptisk probe, EM-CCD sensor for ultimativ Raman kortlægningshastighed Udvidelser::FLIM mulighed er tilgængelig. Kombination med AFM er mulig...

...Vi specialiserer os i stylus/optisk og stressmåling, AFM-systemer, prober og tilbehør, asher/plasma rengøringsmidler, SEM indenter, miniature trækprøvemaskiner, tykkelsesmålere, temperatur/fugtighedskontrol, vibrations/akustiske løsninger og Faraday-bure. I 2015 blev vi britiske repræsentanter for Electron Microscopy Sciences (EMS). EMS har i 45 år leveret forbrugsvarer og tilbehør til de...