Flying Probe Test

Flying-Probe In-Circuit testmetoden er en elektrisk testmetode, der gør det muligt at teste samlinger hurtigt med høj testdækning, selv uden testpads, allerede i prototypefasen. Ved denne testmetode positioneres frit bevægelige testnåle programstyret over luftlagrede linearmotorer på de tilsvarende angivne koordinater på printkortet. Kontakt sker ved elektriske knudepunkter direkte på lederbaner, ved komponentloddepads, ved SMD-tilslutningsben eller, hvis tilgængeligt, på testpads.