XIR

Online fugtmåling med nær-infrarød NIR Nær-infrarød analysator til proces-fugtmåling Højt stabilt målesystem Dobbeltstråleoptik undgår enhver drift af analysatoren. Uafhængig af: - Temperatur - Partikelstørrelse - Måleafstand Hurtig måling med stort registreringsområde Hurtig og nem installation ved hjælp af medfølgende kalibreringstabeller og nem udvidelse Måleprincippet gør det muligt at måle næsten ethvert produkt. Nøjagtigheden er i hvert fald bedre end 1% og kan afhængigt af anvendelsen være op til 0,1%.