Spektrometer EA 1000 VX / AIII - EA1000 spektrometer serien er designet til at overvåge...

Brugen af XRF-teknikker muliggør en ikke-destruktiv analyse af næsten alle slags prøver med næsten ingen forbehandling. Allerede denne grundlæggende spektrometerkonfiguration giver dig mulighed for at analysere: - faste stoffer (som metallegeringer, mineraler, smykker, elektroniske dele [PCB],…) - pulvere (mineraler, keramik, maling, jord,… ) i en tilsvarende holder - væsker (olier, opløsninger, maling, …) i en tilsvarende holder med hensyn til de seneste retningslinjer for begrænsede materialer (som RoHS, WEEE, osv.) men også på en mere generel måde til at estimere sammensætningen i et elementområde fra Al (13) til U (92). Et CCD-kamera bruges til at positionere prøven, så kun det område, der er af interesse, måles – med brug af passende kollimatorer kan en minimum spotstørrelse på 1 mm realiseres. For at forbedre målehastigheden og den analytiske ydeevne (energiresolution) er EA1000VX udstyret med en topmoderne 50mm2 SDD-detektor (ingen flydende nitrogen nødvendig længere). Dette hardware giver dig mulighed for at analysere filmtykkelse.